<input id="kwg0y"></input>
<input id="kwg0y"></input>
  • <menu id="kwg0y"><u id="kwg0y"></u></menu>
  • <menu id="kwg0y"></menu>
    <object id="kwg0y"><u id="kwg0y"></u></object>
    <menu id="kwg0y"><u id="kwg0y"></u></menu>
  • <menu id="kwg0y"></menu>
  • <input id="kwg0y"><acronym id="kwg0y"></acronym></input>
    <input id="kwg0y"><acronym id="kwg0y"></acronym></input>
  • 新一代分析電鏡MERLIN FE-SEM的發布

    2016-04-22新聞資訊

    Carl Zeiss發布了一系列創新產品,內有一款 新一代分析場激發掃描電鏡MERLIN。這個設備具有目前備受爭議的超高分辨率成像和分析功能。“用戶不僅僅需要高分辨率圖像,” 蔡司董事會成員Dr. Dirk Stenkamp解釋說“因為具有獨特的分析能力,我們的設備能提供最全面的信息”。
    MERLIN –集分析和高分辨為一體

    MERLIN FE-SEM 克服了圖像分辨率和分析能力之間的沖突,MERLIN的核心在于加強了GEMINI II柱,帶雙聚光鏡,同時分辨率達到0.8納米。 樣品電流達到300納米時,可用于能量和波長色散X光光譜法分析、背景散射電子的衍射分析或陰極發光光譜的產生。

    系統支持用戶完成一系列原先不能做的工作,因此被Carl Zeiss 稱為“完全檢測系統”。系統包括為表面成像設計的內鏡SE檢測器,為材料對比設計的內鏡EsB檢測器和為色散背景散射電子設計的AsB檢測器。后者含有晶體定位的特定信息。

    MERLIN獨特的電荷補償系統還允許非導電性樣品的高分辨成像,通過注射氮氣,聚集在樣品表面的電子都被驅走,做完這個,完全檢測系統MERLIN就開始工作了。在電荷補償方面,系統的另一個改進時有個純氧通道用于樣品的原位清潔。真空室常有的碳沉積物通過樣品表面去除,因而會產生一些襯度大的圖像。這兩個選擇都能保證用戶集中在樣品的成像和分析上,而不是在樣品準備上浪費時間和金錢。 The unique MERLIN的新電子系統允許設備的配置靈活,額外的檢測器可被快速翻新。另外,這種靈活性使投資更有未來保證,用戶能得利于長期的檢測器發展。

    “新的MERLIN和新近推出的AURIGA CrossBeam工作站一樣,完美的體現了我們產品的特性:最大化信息量,最大化視覺,” Stenkamp指出。

    u9彩票app官方登录下载