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  • FEI的 Tecnai Osiris 透射電鏡為分析速度設置新標準

    2016-04-22新聞資訊

    做為原子級成像和分析系統的主要供應商,FEI 公司最新發布Tecnai Osiris掃描/透射電鏡,該款電鏡在分析速度和表現上有著革命性的意義。內置新的ChemiSTEM 技術,它能把大視野下元素成像的時間從小時降到分鐘級別。

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    Tecnai Osiris結合這個突破性進展和容易使用的特點,來迎合高通量化的工業用戶和多用戶實驗室的要求。正申請專利的ChemiSTEM技術使Tecnai Osiris在EDX元素繪圖時的技術明顯提高了。

    FEI市場部的高級副總裁補充說:“我們的研究和工業用戶越來越重視所有樣品的元素成分分析和成像,Tony Edwards能夠滿足需要。直到現在,沒有其他的S/TEM可以擁有這樣的分析速度和易操作性。”

    Edwards 還說:“Tecnai Osiris的出現填補了市場上對大視野元素成像從小時級到分鐘級的空白,同時不需要對操作者進行復雜分析的培訓。 ”

    ?在工業應用上Tecnai系列一貫擁有高品質和可靠性的名聲,Tecnai Osiris是一款200 kilovolt (kV) 的S/TEM,它延續了Tecnai的傳統,同時增加了包括ChemiSTEM、 MultiLoader、新FS-1能量損失計等在內的多個創新技術,另外還有SmartCam遠程控制相機、長壽命液體氮供應等特點。

    Edwards說:“在一個可靠的、有多種用途的S/TEM上,如果還要求非常高的分析速度、容易使用等特點時,Tecnai Osiris將是最理想的解決方法。”

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